Inhalt
Charakterisierungsmethoden
Allgemein:
Fachsemester: 1 und 2
Turnus: Start im Wintersemester
Sprache: Deutsch
ECTS: 8 (4+4)
Dauer: zweisemestrig
(empfohlene) Voraussetzungen:
keine
zugehörige Veranstalltungen:
a) Praktikum Rasterelektronenmikroskopie (Sommersemester)
b) Praktikum dünne Schichten und Magnetooptik (Wintersemester)
Inhalte:
a) Versuch Rasterkraftmikroskopie: Kraft-Abstandskurve, Kontaktmode und Tappingmode AFM Versuch Tunnelmikroskopie an Luft: Atomare Auflösung und Kalibration eines Scanners, Rauhigkeits- und Strukturgrößenuntersuchungen an polykristallinen Schichten Versuch Tunnelmikroskopie im Ultrahochvakuum: Experiment mit wechselndem Thema aus dem Bereich laufender Forschungsarbeiten (Tunnelspektroskopie an Halbleitern, Musterbildungsprozesse, Adsorption an Oberflächen)
b) Einführung in die Schichtdeposition mit Sputtertechnik (Vakuumtechnik, dc-Magnetronquellen, Substrat- vorbereitung, Schichtdickeneichung); Auswahl von Materialien, die für die Informationstechnologie (Speicher, Sensoren) von Bedeutung sind; Herstellung dünner magnetischer Metallschichten (z.B. Co/Pt Multilagen), die mit Röntgenbeugung auf ihre Struktur charakterisiert werden; Einführung in die Magnetooptik, insbesondere den magnetooptischen Kerr-Effekt (MOKE); Messung der magnetischen Hysteresekurve der Schichten mit MOKE und Bestimmung der magnetischen Parameter.
Lernziele:
Wissen / Verstehen:
Die Studierenden erlangen ein erstes Verständnis zur Erzeugung dünner Schichten sowie deren Charakterisierung mittels Rastersondenmethoden.
Anwenden / Analyse:
Sie sind in der Lage Dünnschichtpräparate anzufertigen und eine geeignete Charakterisierungsmethode auszuwählen und durchzuführen.
Synthese / Beurteilungen:
Die Studierenden erlangen die Fähigkeiten selbstständig Messungen durchzuführen und deren Ergebnisse kritisch zu beurteilen, wodurch sie ihr eigenständiges Arbeiten festigen.
Prüfungsleistung:
Anwesenheitspflicht im Praktikum
Abfrage vor Versuch
Anfertigung eines Versuchsberichtes
(Es werden je Versuch 9 Punkte vergeben (je drei für Abfrage, Durchführung und Protokoll), also insgesamt 27 Punkte für jedes Praktikum. Die Note des jeweiligen Praktikums wird aus den erreichten Punkten gebildet und die Modulnote aus den beiden Einzelnoten.)